Исследования строения и свойств химических соединений, мониторинг химических процессов проводятся с использованием аналитического оборудования ЦКП «Нанотехнологии» Южно-Российского Государственного Политехнического Университета (НПИ) им. М. И. Платова (хроматография, хромато-масс-спектрометрия, рентгенофазовый анализ, ИК и УФ спектроскопия) и ЦКП Института Органической Химии им. Н. Д. Зелинского РАН (ЯМР-спектроскопия, масс-спектрометрия высокого разрешения и др.) в рамках базовой кафедры ЮРГПУ(НПИ) в ИОХ РАН.

Основное оборудование ЦКП «Нанотехнологии»:

Энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL QUANT’X (США ) — качественный и количественный элементный анализ от натрия (Na) до урана (U) в твердых и жидких пробах любой формы, размера или состава.

 

Жидкостный хроматограф Agilent 1260 Infinity (США), снабженный диодноматричным детектором (DAD) и детектором по светорассеянию испарённого образца (ELSD) — предназначен для высокоэффективной жидкостной хроматографии (ВЭЖХ) сложных многокомпонентных смесей и количественного определения термолабильных соединений, в том числе четвертичных солей гетероциклических соединений, комплексов с переходными металлами и лигандов.

Газовый хроматограф Agilent 7890A с масс-селективным квадрупольным детектором MSD 5975С (США ) — качественный и количественный анализ летучих органических веществ, исходных соединений и т.п. капиллярной газожидкостной хромато-масс-спектрометрии.

ИК-Фурье спектрометр Varian 640 (США ) — качественный и количественный анализ органических веществ и смесей методом инфракрасной спектроскопии.

Спектрофотометр «Shimadzu UV-1800» (Япония ) — качественный и количественный анализ органических веществ и смесей методом электронной спектроскопии в УФ и видимой области.

Порошковый рентгеновский дифрактометр ARL X’TRA (Швейцария ) — многофункциональный рентгеновский дифрактометр для решения задач рентгенофазового и рентгеноструктурного анализа порошковых и твердых образцов, в том числе определения состава поликристаллических материалов (качественный и количественный анализ) и определения размеров кристаллитов различных наноматериалов и каталитических систем.

Сканирующий электронный микроскоп Quanta200 (Голландия ) совмещенный с системой рентгеновского микроанализа EDAX Genesis XVS 30 — растровый электронный микроскоп используется для исследования морфологии поверхности полупроводниковых, металлических и неметаллических материалов.

Сканирующий зондовый микроскоп Solver HV (Россия ) — микроскоп зондовый сканирующий Solver HV предназначен для количественных и качественных измерений в условиях высокого вакуума. Solver HV и позволяет с нанометровым разрешением проводить исследование поверхностных характеристик и приповерхностных физических параметров различных объектов.